Das gemeinsame Team von CEA und CNRS verwendete ein 20 Jahre altes Diffraktometer, um Nanostrukturen auf Oberflächen während ihres Wachstums zu untersuchen. Man entschied sich für ein leistungsfähigeres Synchrotron Diffraktometer der Firma Symétrie.
Das neue Synchrotron-Diffraktometer hat zwei Hauptfunktionen:
- Probenpositionierung: Die Probe wird auf dem Strahlengang ausgerichtet und kann sich dank eines BREVA-Hexapods in 6 Freiheitsgraden bewegen, um den Einfallswinkel des Strahls einzustellen.
- Positionierung des Detektors: Um die gebeugten Röntgenstrahlen zu erfassen, die die kristallografische Struktur der Probe charakterisieren, bewegt sich ein Detektor frei auf einer kugelförmigen Oberfläche um die Probe herum.
Projektspezifikationen
- Einfacher Zugang zur UHV-Kammer
- Winkelgeschwindigkeit des Armdetektors: 20°/s
- Sphäre der Verwirrungsprobe: 50 μm
- Sphäre des Konfusionsdetektors: 100 μm
- BREVA Hexapod-Auflösung: 1 μm, 0,001°